Khám phá Buồng Chu Trình Nhiệt IEC61251 UL1703, được thiết kế để thử nghiệm chu trình nhiệt của các tấm pin mặt trời. Máy thử nghiệm môi trường này đẩy nhanh quá trình lão hóa để dự đoán hiệu suất của mô-đun PV trong các điều kiện thời tiết khác nhau. Lý tưởng cho các phương pháp thử nghiệm IEC và UL, nó cung cấp các mẫu tùy chỉnh để phù hợp với các kích thước tấm pin mặt trời khác nhau.