Kiểm tra vòng đời nhiệt độ và độ ẩm tiêu chuẩn IEC cho pin

Kiểm tra nhiệt độ cao và độ ẩm cao (buồng kiểm tra chu kỳ nhiệt độ và độ ẩm) là gì?

Thử nghiệm chu kỳ nhiệt độ và độ ẩm / nhiệt độ và độ ẩm cao của pin niken-cadmium và niken-kim loại hyđrua như sau: pin được xả xuống 1,0V ở 0,2 ℃ và được sạc ở 1 ℃ trong 75 phút trước khi nó được đặt ở 66 ℃, được bảo quản ở độ ẩm 85% trong 192 giờ (8 ngày) và giữ ở nhiệt độ và độ ẩm phòng trong 2 giờ.Pin không được biến dạng hoặc rò rỉ và khả năng phục hồi dung lượng phải trên 80% dung lượng danh định.

Tiêu chuẩn thử nghiệm: IEC 62660-2
Kiểm tra nhiệt
Buồng kiểm tra nhiệt pin

Thử nghiệm này được thực hiện để mô tả phản ứng của tế bào với môi trường nhiệt độ cao.
a) Điều chỉnh SOC của ô thành 100% cho ứng dụng BEV và 80% cho ứng dụng HEV.

b)Tế bào, được ổn định ở nhiệt độ phòng, phải được đặt trong tủ hấp dẫn hoặc đối lưu không khí tuần hoàn.Nhiệt độ lò phải được tăng với tốc độ 5K / phút đến nhiệt độ 130 ℃ ± 2K.Tế bào phải giữ ở nhiệt độ này trong 30 min trước khi ngừng thử nghiệm.
Chú thích - Nếu cần, để ngăn ngừa biến dạng, tế bào có thể được bảo dưỡng trong quá trình thử nghiệm theo cách không vi phạm mục đích thử nghiệm.Cách ngăn ngừa sự biến dạng phải đại diện cho các tế bào bên trong hệ thống pin và bộ pin.

Chu kỳ nhiệt độ
Buồng kiểm tra chu kỳ nhiệt độ pin
 

Thử nghiệm này được thực hiện để mô tả độ bền nhiệt của tế bào bằng cách tiếp xúc luân phiên ở môi trường nhiệt độ thấp và cao để gây ra sự giãn nở và co lại của các thành phần tế bào.
 

a) Điều chỉnh SOC của ô thành 100% cho ứng dụng BEV và 80% cho ứng dụng HEV.
 

b)Thực hiện chu trình nhiệt độ theo ISO 16750-4 như trong Bảng 4, nhiệt độ hoạt động tối thiểu phải là -40 ℃ hoặc Tmin do nhà sản xuất cell quy định và nhiệt độ hoạt động tối đa phải là 85 ℃ hoặc Tmax do nhà sản xuất cell quy định.Thực hiện 30 chu kỳ kiểm tra theo quy định.
 

Bảng 4